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1 磁阻法測(cè)厚儀/ 概述 H04867 是一種用電池供電的便攜式測(cè)量 儀器，可快速無損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。 由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有操作簡(jiǎn) 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。儀器具有 數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測(cè)量次數(shù)、平均值、值及 小值。
絕緣電阻測(cè)試儀概述 寬廣的測(cè)試電壓量程：500V,1000V,2500V,5000V 絕緣電阻可達(dá)1000GΩ。 大顯示屏，可同時(shí)顯示條形碼和數(shù)字值。 可測(cè)量極化指數(shù)(PI)和吸收比（DAR)。 可選擇絕緣測(cè)試時(shí)間(10分鐘內(nèi))。
接地電阻測(cè)試儀概述 小型輕量，采用強(qiáng)耐沖擊的新素材外殼。 除了測(cè)試同時(shí)配備簡(jiǎn)易測(cè)試用探棒 （使用肩帶進(jìn)行簡(jiǎn)易測(cè)試）。
絕緣電阻測(cè)試儀 概述 自動(dòng)放電功能，測(cè)試后自動(dòng)釋放已充電電壓中的電荷。 可在昏暗場(chǎng)所中操作的刻度照明。 帶遙控開關(guān)的探針標(biāo)準(zhǔn)材料裝備。 使用肩帶可雙手作業(yè)。
回路電阻測(cè)試儀 概述 （ATT）反跳脫技術(shù)適用于所有額定30mA以上RCD的完整的自由跳脫回路測(cè)試。 雙重顯示允許LOOP和PFC/PSC測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。 LOOP L-L,L-N和PSC測(cè)試中科雙重接線。
1 泄漏檢測(cè)儀 概述 H05009 是采用 IC 電路 與晶體管組裝的產(chǎn)品。產(chǎn)品具有體積小、重量輕、準(zhǔn)確 可靠、操作方便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，是設(shè)備維修人員的 理想檢測(cè)儀器。
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