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、HAD-JDC概述:   HAD-JDC型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為新代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前內的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項*。雙掃描 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
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介電常數(shù)及介質損耗測試儀 型號:HAD-JDC
、HAD-JDC概述:
HAD-JDC型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為新代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前內的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項*。
雙掃描 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。
自動化測量 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的葆真,頻率的、幅度的穩(wěn)定。
計算機自動修正和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、HAD-JDC介質損耗測試儀主要性:
Q 值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30、100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
作誤差:≤ 7 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍: 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ~ 200pF
主電容調節(jié)范圍: 18 ~ 220pF
主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ~ 160MHz
頻率分段( 虛擬 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
頻率示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字
三、HAD-JDC夾具作性
1.平板電容器:
片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可選
片間距可調范圍: ≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率: 0.001mm
四、HAD-JDC配置:
主機 臺
電感 九支
夾具 套
液體杯 套
隨機文件套